Formal Verification of Device State Chart Models / Corno, Fulvio; Sanaullah, Muhammad. - STAMPA. - Proceedings 2011 Seventh International Conference on Intelligent Environments:(2011), pp. 66-73. (Intervento presentato al convegno The 7th International Conference on Intelligent Environments tenutosi a Nottingham (UK) nel 25-28/07/2011) [10.1109/IE.2011.36].
File in questo prodotto:
File | Dimensione | Formato | |
---|---|---|---|
LibraryFileVerification.pdf
accesso aperto
Tipologia:
Altro materiale allegato
Licenza:
Creative commons
Dimensione
1.17 MB
Formato
Adobe PDF
|
1.17 MB | Adobe PDF | Visualizza/Apri |
LibraryFilesVerification.pdf
accesso aperto
Tipologia:
1. Preprint / submitted version [pre- review]
Licenza:
PUBBLICO - Tutti i diritti riservati
Dimensione
1.19 MB
Formato
Adobe PDF
|
1.19 MB | Adobe PDF | Visualizza/Apri |
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
https://hdl.handle.net/11583/2402456
Attenzione
Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo