Parameters Variability Effects on Multiconductor Interconnects via Hermite Polynomial Chaos

Tipo di pubblicazione: Articolo su rivista
Tipologia MIUR: Contributo su Rivista > Articolo in rivista
Titolo: Parameters Variability Effects on Multiconductor Interconnects via Hermite Polynomial Chaos
Autori: Stievano I.S.; Manfredi P.; Canavero F.G.
Autori di ateneo:
Titolo del periodico: IEEE TRANSACTIONS ON COMPONENTS, PACKAGING, AND MANUFACTURING TECHNOLOGY
Tipo di referee: Tipo non specificato
Editore: IEEE
Volume: 1
Numero: 8
Intervallo pagine: pp. 1234-1239
Numero di pagine: 6
ISSN: 2156-3950
Data: 2011
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave: polynomial chaos, uncertainty, tolerance analysis, stochastic analysis, transmission-lines, circuit simulation, circuit modeling
Dipartimenti (originale): DELEN - Dipartimento di Elettronica
Dipartimenti: DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
URL correlate:
Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ELETTROTECNICA
Data di deposito: 03 Mag 2011 12:51
Data ultima modifica (IRIS): 05 Mag 2016 15:34:25
Data inserimento (PORTO): 07 Mag 2016 18:11
Numero Identificativo (DOI): 10.1109/TCPMT.2011.2152403
Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/2418725
Link resolver URL: Link resolver link
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