Efficient transient analysis of nonlinearly loaded low-loss multiconductor interconnects

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Tipo di pubblicazione: Articolo su rivista
Tipologia MIUR: Contributo su Rivista > Articolo in rivista
Titolo: Efficient transient analysis of nonlinearly loaded low-loss multiconductor interconnects
Autori: Maio I., Pignari S., Canavero F.
Autori di ateneo:
Titolo del periodico: ANALOG INTEGRATED CIRCUITS AND SIGNAL PROCESSING
Tipo di referee: Tipo non specificato
Volume: 5
Numero: 1
Intervallo pagine: pp. 7-17
Numero di pagine: 11
ISSN: 0925-1030
Abstract: The combined time- and frequency-domain analysis of nonlinearly loaded low-loss interconnects is addressed. We show that a variety of interconnects commonly employed in different technological applications are characterized by transfer functions, whose impulse responses have a fast initial-time structure (due to the skin effect) and a slow long-time part (due to ohmic losses). The dependence of the impulse response structure on the line parameters is discussed, along with the exact analytical solutions valid for the skin effect and ohmic losses, separately. A piecewise linear approximation of the transient functions with nonuniform sampling is proposed as an effective method to obtain high accuracy at low computational costs. Various numerical examples are used to validate the effectiveness of the proposed representation, and to show that a matched characterization of the line must be adopted in order to avoid numerical artifacts
Data: 1994
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave:
Dipartimenti (originale): NON SPECIFICATO
Dipartimenti: DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
URL correlate:
Area disciplinare:
Data di deposito: 10 Giu 2011 16:37
Data ultima modifica (IRIS): 15 Ott 2013 13:14:56
Data inserimento (PORTO): 28 Ott 2014 15:51
Numero Identificativo (DOI): 10.1007/BF01673902
Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/2424773
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Citazioni:

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