Structural and electronic properties of the methyl-terminated Si(111) surface

Il contenuto (Full text) non è disponibile all'interno di questo archivio. Spedisci una richiesta all'autore per una copia del documento
Tipo di pubblicazione: Articolo su rivista
Tipologia MIUR: Contributo su Rivista > Articolo in rivista
Titolo: Structural and electronic properties of the methyl-terminated Si(111) surface
Autori: Aliano A.; Li Y.; Cicero G.; Galli G.
Autori di ateneo:
Titolo del periodico: JOURNAL OF PHYSICAL CHEMISTRY. C, NANOMATERIALS AND INTERFACES
Tipo di referee: Tipo non specificato
Editore: American Chemical Society
Volume: 114
Numero: 27
Intervallo pagine: pp. 11898-11902
Numero di pagine: 5
ISSN: 1932-7447
Data: 2010
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave:
Dipartimenti (originale): DISMIC - Dipartimento di Scienza dei Materiali e Ingegneria Chimica
DIFIS - Fisica
Dipartimenti: DISAT - Dipartimento Scienza Applicata e Tecnologia
URL correlate:
    Area disciplinare: Area 02 - Scienze fisiche > FISICA DELLA MATERIA
    Data di deposito: 05 Ott 2011 14:47
    Data ultima modifica (IRIS): 19 Ott 2016 10:12:12
    Data inserimento (PORTO): 21 Ott 2016 04:49
    Numero Identificativo (DOI): 10.1021/jp102028z
    Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/2440849
    Link resolver URL: Link resolver link
    Citazioni:

    Il campo presenta il numero di citazioni presenti sulle banche dati Scopus e Web of Science e permette di accedere ai relativi record. Visualizza inoltre il link al record presente su Google Scholar.

    Possono verificarsi discrepanze rispetto ai dati presenti sulle banche dati per i seguenti motivi:

    • Differenze tra i dati riportati su IRIS e quelli presenti nelle banche dati.
    • Il numero di citazioni riportate su PORTO viene estratto mensilmente. Il dato citazionale presente sulle singole banche dati è aggiornato in tempo reale
    • Il numero di citazioni per WoS viene calcolato sulla base delle collezioni in abbonamento (Science citation index Expanded e Conference Proceedings Citation Index)

    Per informazioni o segnalazioni contattare scrivia/porto

    +
    -

    Azioni (richiesto il login)

    Visualizza il documento (riservato amministratori) Visualizza il documento (riservato amministratori)