Carbon Nanotube Interconnects: Process Variation via Polynomial Chaos

Tipo di pubblicazione: Articolo su rivista
Tipologia MIUR: Contributo su Rivista > Articolo in rivista
Titolo: Carbon Nanotube Interconnects: Process Variation via Polynomial Chaos
Autori: Stievano I.S., Manfredi P., Canavero F.G.
Autori di ateneo:
Titolo del periodico: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY
Tipo di referee: Tipo non specificato
Editore: IEEE
Volume: 54
Numero: 1
Intervallo pagine: pp. 140-148
Numero di pagine: 9
ISSN: 0018-9375
Abstract: This paper addresses the generation of an enhanced stochastic model of a carbon nanotube interconnect including the effects of process variation. The proposed approach is based on the expansion of the constitutive relations of state-of-the-art deterministic models of nanointerconnects with uncertain parameters in terms of orthogonal polynomials. The method offers comparable accuracy and improved efficiency with respect to conventional methods like Monte Carlo in predicting the statistical behavior of the electrical performance of next-generation data links. An application example involving both the frequency- and time-domain analysis of a realistic nanointerconnect concludes this paper
Data: 2012
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave: circuit modeling, tolerance analysis, stochastic analysis, transmission line, emc, polynomial chaos, carbon nanotubes, circuit simulation, uncertainty
Dipartimenti (originale): DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Dipartimenti: DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
URL correlate:
Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ELETTROTECNICA
Data di deposito: 25 Ott 2011 19:46
Data ultima modifica (IRIS): 15 Ott 2013 13:02:23
Data inserimento (PORTO): 12 Gen 2015 11:03
Numero Identificativo (DOI): 10.1109/TEMC.2011.2171490
Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/2458384
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