Evolution of Test Programs Exploiting a FSM Processor Model

Tipo di pubblicazione: Articolo in atti di convegno
Tipologia MIUR: Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) > Contributo in atti di convegno
Titolo: Evolution of Test Programs Exploiting a FSM Processor Model
Autori: E. Sanchez; G. Squillero; A. Tonda
Autori di ateneo:
Intervallo pagine: pp. 162-171
Titolo del periodico: LECTURE NOTES IN COMPUTER SCIENCE
Editore: Springer
ISSN: 0302-9743
Volume: 6625
Titolo del convegno: EvoApplications 2011: EvoCOMNET, EvoFIN, EvoHOT, EvoMUSART, EvoSTIM, and EvoTRANSLOG
Luogo dell'evento: Torino (ITA)
Data dell'evento: April 27-29, 2011
Abstract: Microprocessor testing is becoming a challenging task, due to the increasing complexity of modern architectures. Nowadays, most architectures are tackled with a combination of scan chains and Software-Based Self-Test (SBST) methodologies. Among SBST techniques, evolutionary feedback-based ones prove effective in microprocessor testing: their main disadvantage, however, is the considerable time required to generate suitable test programs. A novel evolutionary-based approach, able to appreciably reduce the generation time, is presented. The proposed method exploits a high-level representation of the architecture under test and a dynamically built Finite State Machine (FSM) model to assess fault coverage without resorting to time-expensive simulations on low-level models. Experimental results, performed on an OpenRISC processor, show that the resulting test obtains a nearly complete fault coverage against the targeted fault model
Data: 2011
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave:
Dipartimenti (originale): DAUIN - Dipartimento di Automatica Informatica
Dipartimenti: DAUIN - Dipartimento di Automatica e Informatica
URL correlate:
    Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > SISTEMI DI ELABORAZIONE DELLE INFORMAZIONI
    Data di deposito: 10 Dic 2011 15:10
    Data ultima modifica (IRIS): 21 Apr 2016 12:01:03
    Data inserimento (PORTO): 16 Nov 2016 07:51
    Numero Identificativo (DOI): 10.1007/978-3-642-20520-0_17
    Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/2464578
    Link resolver URL: Link resolver link
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