Polynomial Chaos Helps Assessing Parameters Variations of PCB Lines

Tipo di pubblicazione: Articolo in atti di convegno
Tipologia MIUR: Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) > Contributo in atti di convegno
Titolo: Polynomial Chaos Helps Assessing Parameters Variations of PCB Lines
Autori: Manfredi P., Stievano I.S., Canavero F.G.
Autori di ateneo:
Intervallo pagine: pp. 1-4
Editore: Piscataway, N.J. : IEEE
ISBN: 9781467322881
Titolo del convegno: 2011 IEEE Electrical Design of Advanced Packaging & Systems Symposium (EDAPS)
Luogo dell'evento: Hangzhou (China)
Data dell'evento: Dec. 12-14, 2011
Rilevanza dell'evento: Internazionale
Abstract: This paper presents an effective solution for the analysis of long PCB interconnects with the inclusion of uncertainties resulting from different sources of variation, like temperature or fabrication process, on both the structure and loading conditions. The proposed approach is based on the expansion of the well-known frequency-domain telegraph equations in terms of orthogonal polynomials. The method is validated by means of a systematic comparison with the results of Monte Carlo simulations, for an application example involving a coupled-microstrip interconnect on PCB
Data: 2011
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave: uncertainty, transmission lines, circuit modeling, tolerance analysis, stochastic analysis, polynomial chaos, circuit simulation
Dipartimenti (originale): DELEN - Dipartimento di Elettronica
Dipartimenti: DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
URL correlate:
Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ELETTROTECNICA
Data di deposito: 16 Gen 2012 16:42
Data ultima modifica (IRIS): 25 Nov 2013 12:03:01
Data inserimento (PORTO): 21 Gen 2015 18:54
Numero Identificativo (DOI): 10.1109/EDAPS.2011.6213764
Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/2480782
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