Archivio Istituzionale della RicercaLayout-Aware Multi-Cell Upsets Effects Analysis on TMR Circuits Implemented on SRAM-Based FPGAs / Sterpone, Luca; Violante, Massimo; Panariti, Alessandro; Bocquillo, A.; Miller, F.; Buard, N.; Manuzzato, A.; Gerardin, S.; Paccagnella, A.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE. - ISSN 0018-9499. - 58:5(2011), pp. 2325-2332. [10.1109/TNS.2011.2161887]
Layout-Aware Multi-Cell Upsets Effects Analysis on TMR Circuits Implemented on SRAM-Based FPGAs
STERPONE, Luca;VIOLANTE, MASSIMO;PANARITI, ALESSANDRO;
2011
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
https://hdl.handle.net/11583/2483779
Attenzione
Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo