Complex Permittivity Determination from Measured Scattering Parameters of TEM Waveguides

Tipo di pubblicazione: Articolo in atti di convegno
Tipologia MIUR: Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) > Contributo in atti di convegno
Titolo: Complex Permittivity Determination from Measured Scattering Parameters of TEM Waveguides
Autori: P. Savi, U. Niyazov, I.A. Maio
Autori di ateneo:
Intervallo pagine: pp. 1352-1355
Tipo di referee: Esperti anonimi
Editore: IEEE
ISBN: 9781612849768
Titolo del convegno: International Conference on Electromagnetics in Advanced Applications (ICEAA)
Luogo dell'evento: Torino
Data dell'evento: September 12-16, 2011
Rilevanza dell'evento: Internazionale
Abstract: This paper addresses the deembedding of the propagation function of waveguides from the scattering responses of setups composed of TEM waveguides terminated by launchers that introduce generic discontinuities. The de-embedding is aimed at estimating the permittivity of dielectric samples from the scattering responses of waveguides including the samples. The de-embedding is based on the double-delay method, that is applied to setups involving different launchers
Data: 2011
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave:
Dipartimenti (originale): DELEN - Dipartimento di Elettronica
Dipartimenti: DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
URL correlate:
Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > CAMPI ELETTROMAGNETICI
Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ELETTROTECNICA
Data di deposito: 13 Apr 2012 15:24
Data ultima modifica (IRIS): 15 Ott 2013 13:04:34
Data inserimento (PORTO): 28 Ott 2014 19:14
Numero Identificativo (DOI): 10.1109/ICEAA.2011.6046548
Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/2496742
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