An improved calibration technique for on-wafer large signal device chracterization suitable up to millimeter waves / Ferrero, ANDREA PIERENRICO; Pisani, Umberto. - STAMPA. - (1992), pp. 95-96. (Intervento presentato al convegno CPEM Conference on Precision Electromagnetic Measurements tenutosi a Paris (France) nel 9-12 June 1992).

An improved calibration technique for on-wafer large signal device chracterization suitable up to millimeter waves

FERRERO, ANDREA PIERENRICO;PISANI, Umberto
1992

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