Frequency and Time Domain Variability Analysis of an On-Chip Inverted Embedded Microstrip Line Using a Macromodeling-based Stochastic Galerkin Method

Tipo di pubblicazione: Articolo in atti di convegno
Tipologia MIUR: Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) > Contributo in atti di convegno
Titolo: Frequency and Time Domain Variability Analysis of an On-Chip Inverted Embedded Microstrip Line Using a Macromodeling-based Stochastic Galerkin Method
Autori: Vande Ginste D., De Zutter D., Deschrijver D. , Dhaene T., Manfredi P., Canavero F.G.
Autori di ateneo:
Intervallo pagine: pp. 85-88
Tipo di referee: Tipo non specificato
Editore: Piscataway, N.J. : IEEE
ISBN: 9781467315036
Titolo del convegno: IEEE 16th Workshop on Signal and Power Integrity (SPI)
Luogo dell'evento: Sorrento (Italy)
Data dell'evento: May 13-16
Rilevanza dell'evento: Internazionale
Abstract: In this contribution a novel stochastic Galerkin method is proposed to analyze the parameter variability of uniform on-chip interconnects. This efficient and accurate stochastic modeling method is made possible, specifically for on-chip interconnects, by first constructing parameterized macromodels of the per unit length transmission line parameters. The theory is illustrated by means of a numerical example, i.e. an inverted embedded microstrip line, of which the variability is analyzed in both the frequency and the time domain. A comparison with a standard Monte Carlo technique validates the new approach
Data: 2012
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave:
Dipartimenti (originale): DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Dipartimenti: DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
URL correlate:
Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ELETTROTECNICA
Data di deposito: 03 Lug 2012 17:26
Data ultima modifica (IRIS): 11 Dic 2013 10:04:05
Data inserimento (PORTO): 28 Ott 2014 20:37
Numero Identificativo (DOI): 10.1109/SaPIW.2012.6222917
Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/2498520
Link resolver URL: Link resolver link
Citazioni:

Il campo presenta il numero di citazioni presenti sulle banche dati Scopus e Web of Science e permette di accedere ai relativi record. Visualizza inoltre il link al record presente su Google Scholar.

Possono verificarsi discrepanze rispetto ai dati presenti sulle banche dati per i seguenti motivi:

  • Differenze tra i dati riportati su IRIS e quelli presenti nelle banche dati.
  • Il numero di citazioni riportate su PORTO viene estratto mensilmente. Il dato citazionale presente sulle singole banche dati è aggiornato in tempo reale
  • Il numero di citazioni per WoS viene calcolato sulla base delle collezioni in abbonamento (Science citation index Expanded e Conference Proceedings Citation Index)

Per informazioni o segnalazioni contattare scrivia/porto

+
-

Allegati

[img] PDF (cnf_2012_spi_micro_IEEE) - Postprint
Accesso al documento: Non visibile (accessibile solo al proprietario del dato)
Licenza: Non pubblico - Accesso privato / Ristretto.

Download (796Kb (816067 bytes)) | Spedisci una richiesta all'autore per una copia del documento

Azioni (richiesto il login)

Visualizza il documento (riservato amministratori) Visualizza il documento (riservato amministratori)