Immunita' ai disturbi RF condotti di circuiti digitali integrati: misure, modellazione e validazione

Tipo di pubblicazione: Articolo in atti di convegno
Tipologia MIUR: Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) > Contributo in atti di convegno
Titolo: Immunita' ai disturbi RF condotti di circuiti digitali integrati: misure, modellazione e validazione
Autori: Canavero F.G.; Siviero C.; Stievano I.S.; Vialardi E.
Autori di ateneo:
Titolo del convegno: XXIII Riunione Annuale del Gruppo Nazionale di Coordinamento di Elettrotecnica, ET2007
Luogo dell'evento: Firenze (Italy)
Data dell'evento: Jun. 28-30, 2007
Rilevanza dell'evento: Nazionale
Data: 2007
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Italiano
Parole chiave:
Dipartimenti (originale): DELEN - Dipartimento di Elettronica
Dipartimenti: DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
URL correlate:
    Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ELETTROTECNICA
    Data di deposito: 03 Lug 2012 17:47
    Data ultima modifica (IRIS): 17 Gen 2017 12:17:39
    Data inserimento (PORTO): 19 Gen 2017 05:34
    Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/2498530
    Link resolver URL: Link resolver link

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