Digital System Immunity Characterization via DPI Aggression

Tipo di pubblicazione: Articolo in atti di convegno
Tipologia MIUR: Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) > Contributo in atti di convegno
Titolo: Digital System Immunity Characterization via DPI Aggression
Autori: Fontana M., Rigazio L., Canavero F.G., Perraud R.
Autori di ateneo:
Intervallo pagine: pp. 1-6
Titolo del convegno: 16ème édition du Colloque International sur la Compatibilité ElectroMagnétique (CEM 2012)
Luogo dell'evento: Rouen (France)
Data dell'evento: April 25-27
Rilevanza dell'evento: Internazionale
Abstract: this paper presents an analysis of IC immunity carried out on a TX/RX digital system, implemented in a FPGA board and several inverter gates. A DPI measurement setup is built and used to measure the immunity of signal I/O ports to conducted continuous-wave interference. Therefore the injection path from RF noise source to input pin is characterized to define the injected power level causing a malfunction on the TX/RX system, up to 250 MHz. Furthermore, jitter characteristics are evaluated varying frequency and noise power
Data: 2012
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave:
Dipartimenti (originale): DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Dipartimenti: DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
URL correlate:
Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ELETTROTECNICA
Data di deposito: 03 Lug 2012 17:49
Data ultima modifica (IRIS): 07 Nov 2013 11:04:11
Data inserimento (PORTO): 28 Ott 2014 20:38
Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/2498532
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