Quantum analysis of Zener-assisted impact ionization for transient regimes and strong electric fields / Quade, W.; Rossi, Fausto; Jacoboni, C.; Scholl, E.. - In: MICROELECTRONIC ENGINEERING. - ISSN 0167-9317. - 19:1-4(1992), pp. 287-290. [10.1016/0167-9317(92)90439-X]

Quantum analysis of Zener-assisted impact ionization for transient regimes and strong electric fields

ROSSI, FAUSTO;
1992

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/2498677
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