High-resolution self-consistent thermal modelling of multi-gate power GaAs MESFETs / Ghione, Giovanni; C. U., Naldi. - STAMPA. - (1989), pp. 147-150. (Intervento presentato al convegno International Electron Devices Meeting nel Dec 1989) [10.1109/IEDM.1989.74248].
High-resolution self-consistent thermal modelling of multi-gate power GaAs MESFETs
GHIONE, GIOVANNI;
1989
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https://hdl.handle.net/11583/2499364
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