Stochastic Modeling-Based Variability Analysis of On-Chip Interconnects

Tipo di pubblicazione: Articolo su rivista
Tipologia MIUR: Contributo su Rivista > Articolo in rivista
Titolo: Stochastic Modeling-Based Variability Analysis of On-Chip Interconnects
Autori: Vande Ginste D.; De Zutter D.; Deschrijver D.; Dhaene T.; Manfredi P.; Canavero F.G.
Autori di ateneo:
Titolo del periodico: IEEE TRANSACTIONS ON COMPONENTS, PACKAGING, AND MANUFACTURING TECHNOLOGY
Tipo di referee: Tipo non specificato
Editore: IEEE
Volume: 2
Numero: 7
Intervallo pagine: pp. 1182-1192
Numero di pagine: 11
ISSN: 2156-3950
Abstract: In this paper, a novel stochastic modeling strategy is constructed that allows assessment of the parameter variability effects induced by the manufacturing process of on-chip interconnects. The strategy adopts a three-step approach. First, a very accurate electromagnetic modeling technique yields the per unit length (p.u.l.) transmission line parameters of the on-chip interconnect structures. Second, parameterized macromodels of these p.u.l. parameters are constructed. Third, a stochastic Galerkin method is implemented to solve the pertinent stochastic telegrapher's equations. The new methodology is illustrated with meaningful design examples, demonstrating its accuracy and efficiency. Improvements and advantages with respect to the state-of-the-art are clearly highlighted
Data: 2012
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave: analytical models, computational modeling, moment methods, numerical models, polynomials, stochastic processes, system-on-a-chip, multiconductor transmission lines (mtls), stochastic galerkin method (sgm), variability analysis
Dipartimenti (originale): DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Dipartimenti: DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
URL correlate:
Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ELETTROTECNICA
Data di deposito: 09 Lug 2012 17:49
Data ultima modifica (IRIS): 10 Mag 2016 12:42:19
Data inserimento (PORTO): 12 Mag 2016 03:35
Numero Identificativo (DOI): 10.1109/TCPMT.2012.2192274
Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/2499389
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