Improved techniques for multiple stuck-at fault analysis using single stuck-at fault test sets

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Tipo di pubblicazione: Articolo in atti di convegno
Tipologia MIUR: Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) > Contributo in atti di convegno
Titolo: Improved techniques for multiple stuck-at fault analysis using single stuck-at fault test sets
Autori: Camurati P., Rebaudengo M., Prinetto P., Sonza Reorda M.
Autori di ateneo:
Intervallo pagine: pp. 383-386
ISBN: 0780305930
Titolo del convegno: Circuits and Systems, 1992. ISCAS '92. Proceedings., 1992 IEEE International Symposium on
Data dell'evento: 10-13 May 1992
Data: 1992
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione:
Parole chiave:
Dipartimenti (originale): NON SPECIFICATO
Dipartimenti: DAUIN - Dipartimento di Automatica e Informatica
URL correlate:
    Area disciplinare:
    Data di deposito: 09 Lug 2012 17:59
    Data ultima modifica (IRIS): 25 Nov 2013 11:24:37
    Data inserimento (PORTO): 28 Ott 2014 21:21
    Numero Identificativo (DOI): 10.1109/ISCAS.1992.229933
    Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/2499392
    Link resolver URL: Link resolver link
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