Fault list compaction through static timing analysis for efficient fault injection experiments / SONZA REORDA, Matteo; Violante, Massimo. - (2002). (Intervento presentato al convegno Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 2002. DFT 2002. Proceedings. 17th IEEE International Symposium on) [10.1109/DFTVS.2002.1173523].
Fault list compaction through static timing analysis for efficient fault injection experiments
SONZA REORDA, Matteo;VIOLANTE, MASSIMO
2002
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https://hdl.handle.net/11583/2500033
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