A Block-Based Approach for SoC Global Interconnect Electrical Parameters Characterization

Tipo di pubblicazione: Articolo in atti di convegno
Tipologia MIUR: Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) > Contributo in atti di convegno
Titolo: A Block-Based Approach for SoC Global Interconnect Electrical Parameters Characterization
Autori: Addino M.; Casu M.R.; Masera G.; Piccinini G.; Zamboni M.
Autori di ateneo:
Intervallo pagine: pp. 121-130
Titolo del periodico: LECTURE NOTES IN COMPUTER SCIENCE
Tipo di referee: Tipo non specificato
Editore: Springer
ISSN: 0302-9743
Volume: 2799/2003
Titolo del convegno: PATMOS 2002
Abstract: A method for SoC global interconnect characterization is presented. Buses are partitioned in blocks whose electrical characterization is done using reduced size primitives and extending the results to the original structure. The accuracy is measured on typical metrics like delays, crosstalk peaks and reabsorbing time. This work is the basis for an automatic evaluator of interconnect metrics to be used in SoC design space explorations and verification
Data: 2003
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave:
Dipartimenti (originale): DELEN - Dipartimento di Elettronica
Dipartimenti: DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
URL correlate:
    Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ELETTRONICA
    Data di deposito: 13 Lug 2012 20:18
    Data ultima modifica (IRIS): 28 Gen 2016 12:17:01
    Data inserimento (PORTO): 02 Feb 2016 03:39
    Numero Identificativo (DOI): 10.1007/978-3-540-39762-5_14
    Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/2500985
    Link resolver URL: Link resolver link
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