EM immunity study of serial links

Tipo di pubblicazione: Articolo in atti di convegno
Tipologia MIUR: Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) > Contributo in atti di convegno
Titolo: EM immunity study of serial links
Autori: Fontana M., Rigazio L., Canavero F.G., Perraud R.
Autori di ateneo:
Intervallo pagine: pp. 1-6
Tipo di referee: Tipo non specificato
Editore: Piscataway, N.J. : IEEE
ISBN: 9781467303026
Titolo del convegno: 2012 ESA Workshop on Aerospace EMC
Luogo dell'evento: Venice (Italy)
Data dell'evento: 21-23 May
Rilevanza dell'evento: Internazionale
Abstract: This paper proposes a systematic study of IC immunity for a TX/RX digital system, implemented in a FPGA board. A DPI setup is used to measure the immunity of signal I/O ports to conducted continuous-wave interference. The injection path from RF noise source to input pin is characterized to define the injected power level causing a malfunction on the TX/RX system, up to 250 MHz. The impact of data coding on immunity measurement is analyzed by comparing error rates of Flexray coded data over a standard serial transmission protocol
Data: 2012
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave:
Dipartimenti (originale): DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Dipartimenti: DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
URL correlate:
Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ELETTROTECNICA
Data di deposito: 07 Set 2012 15:59
Data ultima modifica (IRIS): 15 Ott 2013 13:05:28
Data inserimento (PORTO): 29 Ott 2014 16:49
Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/2502224
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Citazioni:

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