Analysis of Common-Mode Noise on On-Chip Differential Lines through Stochastic Modeling of Parameter Variability

Tipo di pubblicazione: Articolo in atti di convegno
Tipologia MIUR: Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) > Contributo in atti di convegno
Titolo: Analysis of Common-Mode Noise on On-Chip Differential Lines through Stochastic Modeling of Parameter Variability
Autori: Vande Ginste D.; De Zutter D.; Deschrijver D.; Dhaene T.; Manfredi P.; Canavero F.G.;
Autori di ateneo:
Intervallo pagine: pp. 144-149
Tipo di referee: Tipo non specificato
Editore: Piscataway, N.J. : IEEE
ISBN: 9781467320603
Titolo del convegno: IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility (ISEMC 2012)
Luogo dell'evento: Pittsburgh (USA)
Data dell'evento: August 5-10
Rilevanza dell'evento: Internazionale
Abstract: Abstract—In this contribution a novel stochastic modeling strategy to analyze the influence of parameter variability on differential signaling over on-chip interconnects is presented. The method starts from an accurate computation of the differential line's per unit of length transmission line parameters, adopts a parameterized macromodeling scheme, and invokes the so-called stochastic Galerkin method (SGM). Parameter variability of the line itself and of the terminations are studied and compared to a traditional Monte Carlo (MC) approach, as such demonstrating excellent accuracy and efficiency of the proposed new technique. For the first time, an SGM is constructed for and applied to differential on-chip interconnects, and it is illustrated that this novel stochastic modeling strategy is very well suited to analyze common-mode noise induced by random imbalance of the line's terminations
Data: 2012
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave:
Dipartimenti (originale): DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Dipartimenti: DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
URL correlate:
Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ELETTROTECNICA
Data di deposito: 07 Set 2012 16:28
Data ultima modifica (IRIS): 13 Apr 2016 14:37:30
Data inserimento (PORTO): 15 Apr 2016 03:38
Numero Identificativo (DOI): 10.1109/ISEMC.2012.6351794
Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/2502225
Link resolver URL: Link resolver link
Citazioni:

Il campo presenta il numero di citazioni presenti sulle banche dati Scopus e Web of Science e permette di accedere ai relativi record. Visualizza inoltre il link al record presente su Google Scholar.

Possono verificarsi discrepanze rispetto ai dati presenti sulle banche dati per i seguenti motivi:

  • Differenze tra i dati riportati su IRIS e quelli presenti nelle banche dati.
  • Il numero di citazioni riportate su PORTO viene estratto mensilmente. Il dato citazionale presente sulle singole banche dati è aggiornato in tempo reale
  • Il numero di citazioni per WoS viene calcolato sulla base delle collezioni in abbonamento (Science citation index Expanded e Conference Proceedings Citation Index)

Per informazioni o segnalazioni contattare scrivia/porto

+
-

Allegati

[img] PDF (cnf_2012_ISEMC_variability.pdf) - Postprint
Accesso al documento: Non visibile (accessibile solo al proprietario del dato)
Licenza: Non pubblico - Accesso privato / Ristretto.

Download (498Kb (510809 bytes)) | Spedisci una richiesta all'autore per una copia del documento

Azioni (richiesto il login)

Visualizza il documento (riservato amministratori) Visualizza il documento (riservato amministratori)