Complexity Metrics Significance for Defects: An Empirical View

Tipo di pubblicazione: Articolo in atti di convegno
Tipologia MIUR: Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) > Contributo in atti di convegno
Titolo: Complexity Metrics Significance for Defects: An Empirical View
Autori: Syed Muhammad Ali Shah; Maurizio Morisio
Autori di ateneo:
Intervallo pagine: pp. 29-37
Titolo del periodico: LECTURE NOTES IN ELECTRICAL ENGINEERING
Tipo di referee: Tipo non specificato
Editore: Wei Lu
ISBN: 9783642345302
ISSN: 1876-1100
Volume: 212
Titolo del convegno: International Conference on Information Technology and Software Engineering 2012
Luogo dell'evento: Beijing
Data dell'evento: 8-10 December
Rilevanza dell'evento: Internazionale
Luogo di pubblicazione: Beijing
Abstract: Software Complexity often seems to be correlated with the defects and this makes difficult to select appropriate complexity metrics that would be effec-tive indicators of defects. The aim of this work is to analyze the relationship of different complexity metrics with the defects for three categories of software pro-jects i.e. large, medium and small. We analyzed 18 complexity metrics and defects from 27,734 software modules of 38 software projects categorized in large, me-dium and small. In all categories of projects we do not find any strong positive correlation between complexity metrics and defects. However we cluster the com-plexity metric values and defects in three categories as high, medium and low. Consequently we observe that for some complexity metrics high complexity re-sults in higher defects. We called these metrics as effective indicators of defects. In the small category of projects we found LCOM as effective indicator, in the medium category of project we found WMC, CBO, RFC, CA, CE, NPM, DAM, MOA, IC, Avg CC as effective indicators of defects and for a large category of projects we found WMC, CBO, RFC, CA, NPM, AMC, Avg CC as effective indi-cators of defects. The difference shows that complexity metrics relation to defects also varies with the size of projects.
Data: 2012
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave: complexity, defects, metrics
Dipartimenti (originale): DAUIN - Dipartimento di Automatica Informatica
Dipartimenti: DAUIN - Dipartimento di Automatica e Informatica
URL correlate:
Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > SISTEMI DI ELABORAZIONE DELLE INFORMAZIONI
Data di deposito: 05 Nov 2012 11:30
Data ultima modifica (IRIS): 19 Mag 2017 15:18:41
Data inserimento (PORTO): 21 Mag 2017 02:59
Numero Identificativo (DOI): 10.1007/978-3-642-34531-9
Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/2503568
Link resolver URL: Link resolver link
Citazioni:

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