Archivio Istituzionale della RicercaAnalysis of Non-Aligned Double JPEG Artifacts for the Localization of Image Forgeries / Bianchi, Tiziano; A., Piva. - (2011), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno 2011 IEEE Workshop on Information Forensics and Security (WIFS) tenutosi a Foz do Iguaçu, Brazil nel November 29th - December 2nd 2011) [10.1109/WIFS.2011.6123159].
Analysis of Non-Aligned Double JPEG Artifacts for the Localization of Image Forgeries
BIANCHI, TIZIANO;
2011
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
https://hdl.handle.net/11583/2505889
Attenzione
Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo