Prediction of Stochastic Eye Diagrams via IC Equivalents and Lagrange Polynomials

Tipo di pubblicazione: Articolo in atti di convegno
Tipologia MIUR: Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) > Contributo in atti di convegno
Titolo: Prediction of Stochastic Eye Diagrams via IC Equivalents and Lagrange Polynomials
Autori: P. Manfredi; I.S. Stievano; F.G. Canavero
Autori di ateneo:
Intervallo pagine: pp. 103-106
Tipo di referee: Comitato scientifico
Editore: IEEE / Institute of Electrical and Electronics Engineers
ISBN: 9781467356794
Titolo del convegno: 17th IEEE Workshop on Signal and Power Integrity (SPI 2013)
Luogo dell'evento: Paris (F)
Data dell'evento: May 12-15
Rilevanza dell'evento: Internazionale
Abstract: This paper addresses the prediction of eye diagrams in high-speed data links with the inclusion of manufacturing tolerances. The statistical assessment of the system performance is done via the combined application of accurate and efficient IC models and of the stochastic collocation method with Lagrange interpolating polynomials. Numerical results on the computation of the eye opening profile for a realistic PCB interconnect with the inclusion of the effects of parameters uncertainties conclude the paper
Data: 2013
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave: polynomial chaos, digital ics, interconnects, eye pattern, tolerance analysis
Dipartimenti (originale): DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Dipartimenti: DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
URL correlate:
Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ELETTROTECNICA
Data di deposito: 03 Giu 2013 09:34
Data ultima modifica (IRIS): 09 Mag 2016 09:49:31
Data inserimento (PORTO): 21 Mag 2016 09:40
Numero Identificativo (DOI): 10.1109/SaPIW.2013.6558335
Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/2507772
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