Variability Analysis of Interconnects Terminated by General Nonlinear Loads

Tipo di pubblicazione: Articolo su rivista
Tipologia MIUR: Contributo su Rivista > Articolo in rivista
Titolo: Variability Analysis of Interconnects Terminated by General Nonlinear Loads
Autori: Biondi A.; Vande Ginste D.; De Zutter D.; Manfredi P.; Canavero F.G.
Autori di ateneo:
Titolo del periodico: IEEE TRANSACTIONS ON COMPONENTS, PACKAGING, AND MANUFACTURING TECHNOLOGY
Tipo di referee: Esperti anonimi
Editore: IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, NJ 08855 USA
Volume: 3
Numero: 7
Intervallo pagine: pp. 1244-1251
Numero di pagine: 8
ISSN: 2156-3950
Abstract: In this paper, a stochastic modeling method is presented for the analysis of variability effects, induced by the manufacturing process, on interconnect structures terminated by general nonlinear loads. The technique is based on the solution of the pertinent stochastic Telegrapher's equations in time domain by means of the well-established stochastic Galerkin method, but now allows, for the first time in the literature, the inclusion of loads with arbitrary I-V characteristics at the terminals of the lines. The transient solution is obtained by combining the stochastic Galerkin method with a finite-difference time-domain scheme. The proposed technique is validated and illustrated with a meaningful application example, demonstrating its accuracy and efficiency
Data: 2013
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave: galerkin method, integrated circuit interconnections, integrated circuit modelling, stochastic processes
Dipartimenti (originale): DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Dipartimenti: DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
URL correlate:
Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ELETTROTECNICA
Data di deposito: 19 Set 2013 11:12
Data ultima modifica (IRIS): 16 Mag 2016 15:42:46
Data inserimento (PORTO): 18 Mag 2016 03:37
Numero Identificativo (DOI): 10.1109/TCPMT.2013.2259896
Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/2514676
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