Uncertainty Assessment of Lossy and Dispersive Lines in SPICE-Type Environments

Tipo di pubblicazione: Articolo su rivista
Tipologia MIUR: Contributo su Rivista > Articolo in rivista
Titolo: Uncertainty Assessment of Lossy and Dispersive Lines in SPICE-Type Environments
Autori: Manfredi P.; Vande Ginste D.; De Zutter D.; Canavero F.G.
Autori di ateneo:
Titolo del periodico: IEEE TRANSACTIONS ON COMPONENTS, PACKAGING, AND MANUFACTURING TECHNOLOGY
Tipo di referee: Esperti anonimi
Editore: IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, NJ 08855 USA
Volume: 3
Numero: 7
Intervallo pagine: pp. 1252-1258
Numero di pagine: 7
ISSN: 2156-3950
Abstract: This paper presents an alternative modeling strategy for the stochastic analysis of high-speed interconnects. The proposed approach takes advantage of the polynomial chaos framework and a fully SPICE-compatible formulation to avoid repeated circuit simulations, thereby alleviating the computational burden associated with traditional sampling-based methods such as Monte Carlo. Nonetheless, the technique offers very good accuracy and the opportunity to easily simulate complex interconnect topologies which include lossy and dispersive transmission lines, thus overcoming the limitations of previous formulations. Application examples involving the stochastic analysis of on-chip and on-board interconnects validate the methodology proposed
Data: 2013
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave: integrated circuit interconnections, integrated circuit design, circuit simulation, monte carlo methods
Dipartimenti (originale): DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Dipartimenti: DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
URL correlate:
Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ELETTROTECNICA
Data di deposito: 19 Set 2013 11:28
Data ultima modifica (IRIS): 16 Mag 2016 14:07:00
Data inserimento (PORTO): 18 Mag 2016 03:37
Numero Identificativo (DOI): 10.1109/TCPMT.2013.2259295
Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/2514679
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