Analysis of diabetic patients through their examination history

Tipo di pubblicazione: Articolo su rivista
Tipologia MIUR: Contributo su Rivista > Articolo in rivista
Titolo: Analysis of diabetic patients through their examination history
Autori: Antonelli, D.; Baralis, E.; Bruno, G.; Cerquitelli, T.; Chiusano, S.; Mahoto, N.
Autori di ateneo:
Titolo del periodico: EXPERT SYSTEMS WITH APPLICATIONS
Tipo di referee: Esperti anonimi
Editore: Elsevier Ltd
Volume: 40
Numero: 11
Intervallo pagine: pp. 4672-4678
Numero di pagine: 7
ISSN: 0957-4174
Abstract: The analysis of medical data is a challenging task for health care systems since a huge amount of interesting knowledge can be automatically mined to effectively support both physicians and health care organizations. This paper proposes a data analysis framework based on a multiple-level clustering technique to identify the examination pathways commonly followed by patients with a given disease. This knowledge can support health care organizations in evaluating the medical treatments usually adopted, and thus the incurred costs. The proposed multiple-level strategy allows clustering patient examination datasets with a variable distribution. To measure the relevance of specific examinations for a given disease complication, patient examination data has been represented in the Vector Space Model using the TF-IDF method. As a case study, the proposed approach has been applied to the diabetic care scenario. The experimental validation, performed on a real collection of diabetic patients, demonstrates the effectiveness of the approach in identifying groups of patients with a similar examination history and increasing severity in diabetes complications
Data: 2013
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave: multiple-level clustering technique, examination pathways, diabetic care scenario
Dipartimenti (originale): DAUIN - Dipartimento di Automatica Informatica
DIGEP - Dipartimento di Ingegneria Gestionale e della Produzione
Dipartimenti: DIGEP - Dipartimento di Ingegneria Gestionale e della Produzione
DAUIN - Dipartimento di Automatica e Informatica
URL correlate:
Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > TECNOLOGIE E SISTEMI DI LAVORAZIONE
Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > SISTEMI DI ELABORAZIONE DELLE INFORMAZIONI
Data di deposito: 23 Nov 2016 15:12
Data ultima modifica (IRIS): 23 Nov 2016 14:12:11
Data inserimento (PORTO): 26 Nov 2016 06:35
Numero Identificativo (DOI): 10.1016/j.eswa.2013.02.006
Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/2518542
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