Frequency- and time-domain stochastic analysis of lossy and dispersive interconnects in a SPICE-like environment

Tipo di pubblicazione: Articolo in atti di convegno
Tipologia MIUR: Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) > Contributo in atti di convegno
Titolo: Frequency- and time-domain stochastic analysis of lossy and dispersive interconnects in a SPICE-like environment
Autori: Manfredi P.; Vande Ginste D.; De Zutter D.; Canavero F.G.
Autori di ateneo:
Intervallo pagine: pp. 65-68
Tipo di referee: Esperti anonimi
Editore: IEEE
ISBN: 9781467325370
Titolo del convegno: 2012 IEEE 21st Conference on Electrical Performance of Electronic Packaging and Systems (EPEPS)
Luogo dell'evento: Tempe (AZ), USA
Data dell'evento: October 21-24
Rilevanza dell'evento: Internazionale
Abstract: This paper presents an improvement of the state-of-the-art polynomial chaos (PC) modeling of high-speed interconnects with parameter uncertainties via SPICE-like tools. While the previous model, due to its mathematical formulation, was limited to lossless lines, the introduction of modified classes of polynomials yields a formulation that allows to account for lossess and dispersion as well. Thanks to this, the new implementation can also take full advantage of the combination of the PC technique with macromodels that accurately describe the interconnect properties. An application example, i.e. the stochastic analysis of an on-chip line, validates and demonstrates the improved method
Data: 2012
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave: interconnections, polynomials, stochastic processes
Dipartimenti (originale): DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Dipartimenti: DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
URL correlate:
Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ELETTROTECNICA
Data di deposito: 12 Dic 2013 11:59
Data ultima modifica (IRIS): 22 Apr 2016 14:43:25
Data inserimento (PORTO): 24 Apr 2016 03:37
Numero Identificativo (DOI): 10.1109/EPEPS.2012.6457844
Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/2522442
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