Insertion Loss Measurement of EMI Filters with Arbitrary Input and Output Impedances

Tipo di pubblicazione: Articolo in atti di convegno
Tipologia MIUR: Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) > Contributo in atti di convegno
Titolo: Insertion Loss Measurement of EMI Filters with Arbitrary Input and Output Impedances
Autori: Cuellar C., Idir N., Canavero F.G.
Autori di ateneo:
Intervallo pagine: pp. 1-4
Titolo del convegno: 17ème Colloque et Exposition sur la Compatibilité ElectroMagnétique (CEM 2014)
Luogo dell'evento: Clermont-Ferrand (France)
Data dell'evento: July 1-3
Rilevanza dell'evento: Internazionale
Data: 2014
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave:
Dipartimenti (originale): DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Dipartimenti: DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
URL correlate:
    Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ELETTROTECNICA
    Data di deposito: 11 Set 2014 12:12
    Data ultima modifica (IRIS): 11 Set 2014 12:10:35
    Data inserimento (PORTO): 31 Ott 2014 13:45
    Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/2562743
    Link resolver URL: Link resolver link

    Allegati

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