Archivio Istituzionale della RicercaStructural and electrical characterization of epitaxial 4H–SiC layers for power electronic device applications / Scaltrito, Luciano; Porro, Samuele; Cocuzza, Matteo; Giorgis, Fabrizio; Pirri, Candido; Mandracci, Pietro; Ricciardi, Carlo; Ferrero, Sergio; Sgorlon, Corrado; G., Richieri; L., Merlin; A., Castaldini; A., Cavallini; L., Polenta. - In: MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B-SOLID STATE MATERIALS FOR ADVANCED TECHNOLOGY. - ISSN 0921-5107. - 102:(2003), pp. 298-303. [10.1016/S0921-5107(02)00726-2]
Structural and electrical characterization of epitaxial 4H–SiC layers for power electronic device applications
SCALTRITO, LUCIANO;PORRO, SAMUELE;COCUZZA, MATTEO;GIORGIS, FABRIZIO;PIRRI, Candido;MANDRACCI, Pietro;RICCIARDI, Carlo;FERRERO, SERGIO;SGORLON, CORRADO;
2003
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
https://hdl.handle.net/11583/2588469
Attenzione
Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo