A New Simulation-Based Fault Injection Approach for the Evaluation of Transient Errors in GPGPUs

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Tipo di pubblicazione: Articolo in atti di convegno
Tipologia MIUR: Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) > Contributo in atti di convegno
Titolo: A New Simulation-Based Fault Injection Approach for the Evaluation of Transient Errors in GPGPUs
Autori: Azimi, Sarah; Du, Boyang; Sterpone, Luca
Autori di ateneo:
Intervallo pagine: pp. 388-400
Titolo del periodico: LECTURE NOTES IN COMPUTER SCIENCE
Tipo di referee: Esperti anonimi
Editore: Elsevier
ISBN: 978-3-319-30695-7
ISSN: 0302-9743
Volume: 9637
Titolo del convegno: Architecture of Computing Systems -- ARCS 2016
Luogo dell'evento: Norimberga
Data dell'evento: 4 - 7 April 2016
Abstract: General Purpose Graphics Processing Units (GPGPUs) are increasingly adopted thanks to their high computational capabilities. GPGPUs are preferable to CPUs for a large range of computationally intensive applications, not necessarily related to computer graphics. Within the high performance computing context, GPGPUs must require a large amount of resources and have plenty execution units. GPGPUs are becoming attractive for safety-critical applications where the phenomenon of transient errors is a major concern. In this paper we propose a novel transient error fault injection simulation methodology for the accurate simulation of GPGPUs applications during the occurrence of transient errors. The developed environment allows to inject transient errors within all the memory area of GPGPUs and into not user-accessible resources such as in streaming processors combinational logic and sequential elements. The capability of the fault injection simulation platform has been evaluated testing three benchmark applications including mitigation approaches. The amount of computational costs and time measured is minimal thus enabling the usage of the developed approach for effective transient errors evaluation
Data: 2016
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave: gpgpu, radiation effects, seu, set, reliability
Dipartimenti (originale): DAUIN - Dipartimento di Automatica Informatica
Dipartimenti: DAUIN - Dipartimento di Automatica e Informatica
URL correlate:
Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > SISTEMI DI ELABORAZIONE DELLE INFORMAZIONI
Data di deposito: 07 Apr 2016 13:18
Data ultima modifica (IRIS): 07 Apr 2016 11:18:33
Data inserimento (PORTO): 09 Apr 2016 03:37
Numero Identificativo (DOI): 10.1007/978-3-319-30695-7_29
Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/2639137
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Citazioni:

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