High-resolution analysis of currents at low-angle grain boundaries in YBCO thin films using magneto-optics and magnetic x-ray microscopy / Ruoss, Stephen; Stahl, Claudia; Bayer, Jonas; Schutz, Gisela; Albrecht, Joachim; Laviano, Francesco. - In: IEEE TRANSACTIONS ON APPLIED SUPERCONDUCTIVITY. - ISSN 1051-8223. - (2016), pp. 1-1. [10.1109/TASC.2016.2549180]
High-resolution analysis of currents at low-angle grain boundaries in YBCO thin films using magneto-optics and magnetic x-ray microscopy
LAVIANO, FRANCESCO
2016
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
https://hdl.handle.net/11583/2639233
Attenzione
Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo