Robust nonlinear models for CMOS buffers

Tipo di pubblicazione: Articolo in atti di convegno
Tipologia MIUR: Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) > Contributo in atti di convegno
Titolo: Robust nonlinear models for CMOS buffers
Autori: Diouf, C.; Telescu, M.; Tanguy, N.; Stievano, I.S.; Canavero, F.G.
Autori di ateneo:
Intervallo pagine: pp. 1-4
Tipo di referee: Comitato scientifico
Editore: IEEE
ISBN: 978-1-5090-0349-5
Titolo del convegno: 2016 IEEE 20th Workshop on Signal and Power Integrity (SPI)
Luogo dell'evento: Torino, I
Data dell'evento: May 8-11, 2016
Abstract: For over a decade, buffer macromodeling has been a topic of great interest for the integrated circuit industry. The performance assessment of high-speed datalinks requires efficient means of simulating IC ports making compact and accurate behavioral models valuable instruments. In the present communication a new modeling technique, with several important advantages is described. The approach is purely "black-box", relying exclusively on the observation of the external port voltages and currents safeguarding intellectual property. Unlike the standard algorithms currently used in EDA tools, the method described in this paper models the input-output behavior by means of a simple nonlinear system easy to identify and implement. Good model performance in overclocking conditions is an important advantage
Data: 2016
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave: digital ics, i/o buffers, modeling, circuit simulation, signal integrity, power integrity
Dipartimenti (originale): DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Dipartimenti: DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
URL correlate:
Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ELETTROTECNICA
Data di deposito: 19 Lug 2016 16:25
Data ultima modifica (IRIS): 19 Lug 2016 14:25:24
Data inserimento (PORTO): 25 Lug 2016 16:31
Numero Identificativo (DOI): 10.1109/SaPIW.2016.7496284
Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/2645307
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