Combined Parametric and Worst Case Circuit Analysis via Taylor Models

Tipo di pubblicazione: Articolo su rivista
Tipologia MIUR: Contributo su Rivista > Articolo in rivista
Titolo: Combined Parametric and Worst Case Circuit Analysis via Taylor Models
Autori: Trinchero, R.; Manfredi, P.; Ding, T.; Stievano, I.S.
Autori di ateneo:
Titolo del periodico: IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS. I, REGULAR PAPERS
Tipo di referee: Esperti anonimi
Editore: IEEE
Volume: 63
Numero: 7
Intervallo pagine: pp. 1067-1078
Numero di pagine: 12
ISSN: 1549-8328
Abstract: This paper proposes a novel paradigm to generate a parameterized model of the response of linear circuits with the inclusion of worst case bounds. The methodology leverages the so-called Taylor models and represents parameter-dependent responses in terms of a multivariate Taylor polynomial, in conjunction with an interval remainder accounting for the approximation error. The Taylor model representation is propagated from input parameters to circuit responses through a suitable redefinition of the basic operations, such as addition, multiplication or matrix inversion, that are involved in the circuit solution. Specifically, the remainder is propagated in a conservative way based on the theory of interval analysis. While the polynomial part provides an accurate, analytical and parametric representation of the response as a function of the selected design parameters, the complementary information on the remainder error yields a conservative, yet tight, estimation of the worst case bounds. Specific and novel solutions are proposed to implement complex-valued matrix operations and to overcome well-known issues in the state-of-the-art Taylor model theory, like the determination of the upper and lower bound of the multivariate polynomial part. The proposed framework is applied to the frequency-domain analysis of linear circuits. An in-depth discussion of the fundamental theory is complemented by a selection of relevant examples aimed at illustrating the technique and demonstrating its feasibility and strength
Data: 2016
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave: circuit simulation, taylor models, interval analysis, parameterized modeling, parametric simulation, tolerance analysis, uncertainty, worst case analysis
Dipartimenti (originale): DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Dipartimenti: DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
URL correlate:
Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ELETTROTECNICA
Data di deposito: 25 Lug 2016 15:25
Data ultima modifica (IRIS): 25 Lug 2016 13:25:36
Data inserimento (PORTO): 29 Lug 2016 08:59
Numero Identificativo (DOI): 10.1109/TCSI.2016.2546389
Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/2645588
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