Uncertainty analysis in system-level vulnerability assessment for IEMI

Tipo di pubblicazione: Articolo in atti di convegno
Tipologia MIUR: Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) > Contributo in atti di convegno
Titolo: Uncertainty analysis in system-level vulnerability assessment for IEMI
Autori: Mao, Congguang; Canavero, Flavio
Autori di ateneo:
Intervallo pagine: pp. 1073-1076
Tipo di referee: Esperti anonimi
ISBN: 978-1-4799-6615-8
Titolo del convegno: Electromagnetic Compatibility (EMC), 2015 IEEE International Symposium on
Data dell'evento: 16-22 Aug. 2015
Abstract: As an integrity of numbers of equipments and links, the system-level vulnerability assessment for the intentional electromagnetic interferences (IEMI) involves massive activities, such as analysis, computation and tests. The uncertainties of the systems and environments will influence the assessment results. So it is necessary to find out and limit the sources of uncertainty in order to guarantee and promote the reliability and accuracy of the assessment. This paper, based on the assessment formulation of Bayesian Networks (BN), analyzes the uncertainty from the two aspects: the data processing and acquisition. Both of them are illuminated with two typical cases. The further study needed to be done is suggested finally
Data: 2015
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave: fitting, stress, distribution functions, electromagnetics, density functional theory, density measurement, stress measurement, electromagnetic interference, belief networks, data acquisition, bayesian networks, uncertainty analysis, system-level vulnerability assessment, iemi, intentional electromagnetic interferences, vulnerability, uncertainty, electromagnetic vulnerability, iemi, assessment, bayesian networks
Dipartimenti (originale): DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Dipartimenti: DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
URL correlate:
Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ELETTROTECNICA
Data di deposito: 05 Set 2016 15:15
Data ultima modifica (IRIS): 20 Ott 2016 14:40:09
Data inserimento (PORTO): 23 Ott 2016 21:36
Numero Identificativo (DOI): 10.1109/ISEMC.2015.7256317
Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/2647371
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