Impact on signal integrity of interconnect variabilities

Tipo di pubblicazione: Articolo in atti di convegno
Tipologia MIUR: Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) > Contributo in atti di convegno
Titolo: Impact on signal integrity of interconnect variabilities
Autori: Manfredi, Paolo; Vande Ginste, Dries; De Zutter, Daniel; Canavero, Flavio G.
Autori di ateneo:
Intervallo pagine: pp. 673-678
Tipo di referee: Esperti anonimi
Editore: IEEE
ISBN: 978-1-4799-5545-9
Titolo del convegno: 2014 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC)
Luogo dell'evento: Raleigh, NC
Data dell'evento: 4-8 Aug. 2014
Abstract: In this paper, literature results on the statistical simulation of lossy and dispersive interconnect networks with uncertain physical properties are extended to general nonlinear circuits. The approach is based on the expansion of circuit voltages and currents into polynomial chaos approximations. The derivation of deterministic circuit equivalents for nonlinear components allows to retrieve the unknown expansion coefficients with a single circuit simulation, that can be carried out via standard SPICE-type solvers. These coefficients provide direct statistical information. The methodology allows the inclusion of arbitrary nonlinear elements and is validated via transmission-line networks terminated by diodes and driven by inverters
Data: 2014
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave: integrated circuit interconnections, integrated circuit modeling, mathematical model, monte carlo methods, polynomials, standards, statistical analysis, chaos, circuit simulation, integrated circuit interconnections, polynomial approximation, spice, lossy interconnect networks, signal integrity, interconnect variabilities, arbitrary nonlinear elements, expansion coefficients, nonlinear components, deterministic circuit equivalents, polynomial chaos approximations, general nonlinear circuits, transmission lines, circuit simulation, nonlinear, polynomial chaos, signal integrity, spice, statistical analysis
Dipartimenti (originale): DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Dipartimenti: DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
URL correlate:
Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ELETTROTECNICA
Data di deposito: 05 Set 2016 15:40
Data ultima modifica (IRIS): 06 Set 2016 11:45:15
Data inserimento (PORTO): 09 Set 2016 05:04
Numero Identificativo (DOI): 10.1109/ISEMC.2014.6899054
Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/2647379
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