System-Level Vulnerability Assessment for EME: From Fault Tree Analysis to Bayesian Networks—Part II: Illustration to Microcontroller System

Tipo di pubblicazione: Articolo su rivista
Tipologia MIUR: Contributo su Rivista > Articolo in rivista
Titolo: System-Level Vulnerability Assessment for EME: From Fault Tree Analysis to Bayesian Networks—Part II: Illustration to Microcontroller System
Autori: Mao, Congguang; Canavero, Flavio G.; Cui, Zhitong; Sun, Dongyuang
Autori di ateneo:
Titolo del periodico: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY
Tipo di referee: Esperti anonimi
Editore: IEEE
Volume: 58
Numero: 1
Intervallo pagine: pp. 188-196
Numero di pagine: 9
ISSN: 0018-9375
Abstract: The vulnerability of microcontroller system against high-altitude electromagnetic pulse (HEMP) is taken as an illustration to demonstrate the assessment methodology based on Bayesian networks (BN). The complete procedure is performed by two steps: the qualitative and the quantitative. The first step focuses on the analysis of three classes of properties, the electromagnetic environment, system function/structure, and their interactions. The primary BN model is built at the end of the first step. The second step investigates the BN nodes and branches one by one, which further implemented through two stages, i.e., the data acquisition and data fusion. The susceptibilities of devises are examined with the pulsed current injection. The responses of the transmission lines to HEMP are computed using the field-line coupling model. Comparing the probability density functions of the electromagnetic stresses and strengths produces the failure probabilities of the interface components. Through two-step analysis, the critical elements and coupling paths are identified and highlighted. After neglecting those unimportant factors, many BN nodes and branches are deleted. Thus, the complexity of assessment is reduced. By assigning the probability values to the simplified BN model, the system failure probability is calculated, which characterizes the system vulnerability against HEMP environment. The illustration validates the rationality and flexibility of the BN assessment methodology
Data: 2016
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave: bn assessment methodology, system-level vulnerability assessment, electromagnetic environment, eme, fault tree analysis, bayesian networks, primary bn model, microcontroller system, high-altitude electromagnetic pulse, hemp, bn nodes, data acquisition, data fusion, pulsed current injection, transmission line, field-line coupling model, probability density functions, electromagnetic stresses, failure probabilities, system failure probability, vulnerability, e3, eme, hemp, iemi
Dipartimenti (originale): DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
Dipartimenti: DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
URL correlate:
Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ELETTROTECNICA
Data di deposito: 13 Set 2016 17:55
Data ultima modifica (IRIS): 13 Set 2016 15:55:33
Data inserimento (PORTO): 16 Set 2016 17:06
Numero Identificativo (DOI): 10.1109/TEMC.2015.2502591
Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/2647383
Link resolver URL: Link resolver link
Citazioni:

Il campo presenta il numero di citazioni presenti sulle banche dati Scopus e Web of Science e permette di accedere ai relativi record. Visualizza inoltre il link al record presente su Google Scholar.

Possono verificarsi discrepanze rispetto ai dati presenti sulle banche dati per i seguenti motivi:

  • Differenze tra i dati riportati su IRIS e quelli presenti nelle banche dati.
  • Il numero di citazioni riportate su PORTO viene estratto mensilmente. Il dato citazionale presente sulle singole banche dati è aggiornato in tempo reale
  • Il numero di citazioni per WoS viene calcolato sulla base delle collezioni in abbonamento (Science citation index Expanded e Conference Proceedings Citation Index)

Per informazioni o segnalazioni contattare scrivia/porto

+
-

Allegati

[img]
Preview
PDF (jnl_2016_TEMC_Vulnerability_II_cm_fc_zc_ds_OA.pdf) - Postprint
Accesso al documento: Visibile (Ad accesso aperto)
Licenza: Pubblico - Tutti i diritti riservati.

Download (1260Kb (1290961 bytes)) | Preview
[img] PDF (jnl_2016_TEMC_Vulnerability_II_cm_fc_zc_ds.pdf) - Postprint
Accesso al documento: Non visibile (accessibile solo al proprietario del dato)
Licenza: Non pubblico - Accesso privato / Ristretto.

Download (1160Kb (1188291 bytes)) | Spedisci una richiesta all'autore per una copia del documento

Azioni (richiesto il login)

Visualizza il documento (riservato amministratori) Visualizza il documento (riservato amministratori)

Statistiche sul Download degli allegati

Altre statistiche su questa pubblicazione...