Fragility and Evolution of Android Test Suites

Tipo di pubblicazione: Articolo in atti di convegno
Tipologia MIUR: Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) > Contributo in atti di convegno
Titolo: Fragility and Evolution of Android Test Suites
Autori: Coppola, Riccardo
Autori di ateneo:
Intervallo pagine: pp. 405-408
Tipo di referee: Esperti anonimi
Editore: Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
ISBN: 9781538615898
Titolo del convegno: 39th IEEE/ACM International Conference on Software Engineering Companion, ICSE-C 2017
Luogo dell'evento: Buenos Aires (ARG)
Data dell'evento: 2017
Data: 2017
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave: reliability and quality, mobile applications, software evolution, testing, software, safety, risk, gui testing
Dipartimenti (originale): DAUIN - Dipartimento di Automatica Informatica
Dipartimenti: DAUIN - Dipartimento di Automatica e Informatica
URL correlate:
Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > SISTEMI DI ELABORAZIONE DELLE INFORMAZIONI
Data di deposito: 13 Set 2017 12:41
Data ultima modifica (IRIS): 13 Set 2017 12:47:36
Data inserimento (PORTO): 15 Set 2017 02:13
Numero Identificativo (DOI): 10.1109/ICSE-C.2017.22
Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/2679998
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