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Beyond Ideal DVFS Through Ultra-Fine Grain Vdd-Hopping / Peluso, Valentino; Rizzo, ROBERTO GIORGIO; Calimera, Andrea; Macii, Enrico; Alioto, Massimo - In: VLSI-SoC: System-on-Chip in the Nanoscale Era – Design, Verification and ReliabilitySTAMPA. - [s.l] : Springer, 2017. - ISBN 978-3-319-67103-1. - pp. 152-172 [10.1007/978-3-319-67104-8_8]

Beyond Ideal DVFS Through Ultra-Fine Grain Vdd-Hopping

PELUSO, VALENTINO;RIZZO, ROBERTO GIORGIO;CALIMERA, ANDREA;MACII, Enrico;ALIOTO, MASSIMO
2017
2017
978-3-319-67103-1
978-3-319-67104-8
VLSI-SoC: System-on-Chip in the Nanoscale Era – Design, Verification and Reliability
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/2681678