Archivio Istituzionale della RicercaStructural and electrical characterization of the 4H-SiC based junction field effect transistor (JFET) / Shili, K.; Ben Karoui, M.; Gharbi, R.; Ferrero, S.. - ELETTRONICO. - (2013), pp. 1-4. (Intervento presentato al convegno 1st International Conference on Electrical Engineering and Software applications, ICEESA 2013 tenutosi a Hammamet, tun nel 2013) [10.1109/ICEESA.2013.6578475].
Structural and electrical characterization of the 4H-SiC based junction field effect transistor (JFET)
Ferrero, S.
2013
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https://hdl.handle.net/11583/2693859
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