Effectiveness of TMR-based techniques to mitigate alpha-induced SEU accumulation in commercial SRAM-based FPGAs / A., Manuzzato; S., Gerardin; A., Paccagnella; Sterpone, Luca; Violante, Massimo. - In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE. - ISSN 0018-9499. - 55:(2008), pp. 1968-1973. [10.1109/TNS.2008.2000850]

Effectiveness of TMR-based techniques to mitigate alpha-induced SEU accumulation in commercial SRAM-based FPGAs

STERPONE, Luca;VIOLANTE, MASSIMO
2008

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