TISSEUR, RICCARDO

TISSEUR, RICCARDO  

Dipartimento di Automatica e Informatica  

024273  

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Parameters Estimation of Hydraulic Circuit Head Losses for Virtual Sensor Design / Malan, Stefano; Greco, Cosimo; Tisseur, Riccardo; Bari, Federico. - In: IEEE TRANSACTIONS ON CONTROL SYSTEMS TECHNOLOGY. - ISSN 1063-6536. - STAMPA. - 25:4(2017), pp. 1345-1358. [10.1109/TCST.2016.2611567] 1-gen-2017 MALAN, STEFANOGRECO, CosimoTISSEUR, RICCARDO + -
The EcoThermo project: key and innovative aspects / Bari, F.; Mereu, D.; Damarco, Chiara; Greco, Cosimo; Malan, Stefano; Marchetto, Guido; ROA TIRADO, Sebastian; Tisseur, Riccardo; Violante, Massimo; Zangari, Giuseppe; Caruso, Sebastiano; Masoero, Marco Carlo; Saba, Fabio. - In: ENERGY PROCEDIA. - ISSN 1876-6102. - ELETTRONICO. - (2015), pp. 2977-2982. (Intervento presentato al convegno 6th International Building Physics Conference, IBPC 2015 tenutosi a Torino nel 15-17 June 2015) [10.1016/j.egypro.2015.11.697]. 1-gen-2015 DAMARCO, CHIARAGRECO, CosimoMALAN, STEFANOMARCHETTO, GUIDOROA TIRADO, SEBASTIANTISSEUR, RICCARDOVIOLANTE, MASSIMOZANGARI, GIUSEPPECARUSO, SEBASTIANOMASOERO, Marco CarloSABA, FABIO + 1-s2.0-S1876610215024297-main.pdf
Soft-sensor: una tecnologia consolidata applicata alla metrologia e alle reti fluidiche / Greco, Cosimo; Malan, Stefano; Tisseur, Riccardo. - ELETTRONICO. - (2014), pp. 1-32. (Intervento presentato al convegno EcoThermo - Metrologia, Domotica ed Efficienza energetica tenutosi a Torino nel 14/07/2014). 1-gen-2014 GRECO, CosimoMALAN, STEFANOTISSEUR, RICCARDO GRECO_Evento_EcoThermo_pubb.pdf
A Green's function approach to the analysis of non volatile memory device variability as a function of individual trap position / Tisseur, Riccardo; DONATI GUERRIERI, Simona; Bonani, Fabrizio; Ghione, Giovanni; Benvenuti, A.; Ghetti, A.. - STAMPA. - (2013). (Intervento presentato al convegno International Conference on Noise and Fluctuations tenutosi a Montpellier, France nel 24-28 June) [10.1109/ICNF.2013.6578931]. 1-gen-2013 TISSEUR, RICCARDODONATI GUERRIERI, SimonaBONANI, FabrizioGHIONE, GIOVANNI + -
Developement of simulation tools for the analysis of variability in advanced semiconductor electron devices / Tisseur, Riccardo. - (2013). [10.6092/polito/porto/2556945] 1-gen-2013 TISSEUR, RICCARDO RiccardoTisseur_PhDThesis.pdf
Green’s function based simulation of trap-induced device variability / Tisseur, Riccardo; Bonani, Fabrizio; DONATI GUERRIERI, Simona; Ghione, Giovanni. - STAMPA. - Proceedings of GE2012:(2012), pp. 28-29. (Intervento presentato al convegno XLIV riunione annuale del Gruppo Elettronica tenutosi a Marina di Carrara nel 20-22 Giugno 2012). 1-gen-2012 TISSEUR, RICCARDOBONANI, FabrizioDONATI GUERRIERI, SimonaGHIONE, GIOVANNI 6_Tisseur.pdf
Modeling and simulation of noise in transistors under large-signal condition / Bonani, Fabrizio; DONATI GUERRIERI, Simona; Ghione, Giovanni; Tisseur, Riccardo. - ELETTRONICO. - (2011), pp. 10-15. (Intervento presentato al convegno 21st International Conference on Noise and Fluctuations tenutosi a Toronto, Canada nel 12-16 June). 1-gen-2011 BONANI, FabrizioDONATI GUERRIERI, SimonaGHIONE, GIOVANNITISSEUR, RICCARDO 2425179.pdf
Microwave device optimization through efficient numerical simulation / Tisseur, Riccardo; Bertazzi, Francesco; Bonani, Fabrizio; DONATI GUERRIERI, Simona; Ghione, Giovanni. - (2010). (Intervento presentato al convegno XLII riunione annuale del Gruppo Elettronica nel Monte Porzio Catone). 1-gen-2010 TISSEUR, RICCARDOBERTAZZI, FRANCESCOBONANI, FabrizioDONATI GUERRIERI, SimonaGHIONE, GIOVANNI GE2010_Tisseur.pdf