Exploiting Auto-Adaptive microGP for Highly Effective Test Programs Generation / Corno, Fulvio; Squillero, Giovanni. - 2606:(2003), pp. 262-273. (Intervento presentato al convegno International Conference on Evolvable Systems) [10.1007/3-540-36553-2_24].

Exploiting Auto-Adaptive microGP for Highly Effective Test Programs Generation

CORNO, Fulvio;SQUILLERO, Giovanni
2003

2003
9783540007302
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/1417974