Pubblicazioni il cui periodico è "2016 IEEE 34th VLSI Test Symposium (VTS)"

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Numero di pubblicazioni : 1.

Articolo in atti di convegno Vatajelu, E.I.; Di Natale, G.; Prinetto, P. (2016)
Security Primitives (PUF and TRNG) with STT-MRAM. In: 2016 IEEE 34th VLSI Test Symposium (VTS). pp. 1-4
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