Pubblicazioni il cui periodico è "MICROELECTRONICS RELIABILITY"

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Numero di pubblicazioni : 15.

Articolo di rivista Chen, Yukai; Macii, Enrico; Poncino, Massimo (2017)
Empirical derivation of upper and lower bounds of NBTI aging for embedded cores. In: MICROELECTRONICS RELIABILITY, vol. PP, pp. 1-12. - ISSN 0026-2714 [Disponibilità ristretta]
Scopus: 0
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Articolo di rivista Zhang, Qiutao; Azimi, Sarah; La Vaccara, Germano; Sterpone, Luca; Du, Boyang (2017)
A new approach for Total Ionizing Dose effect analysis on Flash-based FPGA. In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714
Scopus: 0

Articolo di rivista Sterpone, Luca; Boragno, Luca (2017)
A probe-based SEU detection method for SRAM-based FPGAs. In: MICROELECTRONICS RELIABILITY, vol. 76-77C, pp. 154-158. - ISSN 0026-2714 [Disponibilità ristretta]
Scopus: 0
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Articolo di rivista Velasco, A.D.; Montrucchio, B.; Rebaudengo, M. (2016)
KITO tool: A fault injection environment in Linux kernel data structures. In: MICROELECTRONICS RELIABILITY, vol. 60, pp. 153-162. - ISSN 0026-2714
Web of Science: 2 - Scopus: 0

Articolo di rivista Azimi, S.; Du, B.; Sterpone, L. (2016)
On the prediction of Radiation-induced SETs in Flash-based FPGAs. In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714 [Disponibilità ristretta]
Web of Science: 0 - Scopus: 0
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Articolo di rivista La Grassa, Marco; Meneghini, Matteo; De Santi, Carlo; Mandurrino, Marco; Goano, Michele; Bertazzi, Francesco; Zeisel, Roland; Galler, Bastian; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico (2015)
Ageing of InGaN-based LEDs: Effects on internal quantum efficiency and role of defects. In: MICROELECTRONICS RELIABILITY, vol. 55 n. 9-10, pp. 1775-1778. - ISSN 0026-2714 [Disponibilità ristretta]
Web of Science: 3 - Scopus: 4
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Articolo di rivista Saleem, Muhammad Mubasher; Somà, Aurelio (2015)
Design optimization of RF-MEMS switch considering thermally induced residual stress and process uncertainties. In: MICROELECTRONICS RELIABILITY, vol. 55 n. 11, pp. 2284-2298. - ISSN 0026-2714
Web of Science: 1 - Scopus: 1

Articolo di rivista L. Sterpone, ; Du, B.; Sarah Azimi (2015)
Radiation-induced single event transients modeling and testing on nanometric flash-based technologies. In: MICROELECTRONICS RELIABILITY, vol. 55 n. 9-10, pp. 2087-2091. - ISSN 0026-2714 [Disponibilità ristretta]
Web of Science: 2 - Scopus: 3
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Articolo di rivista Sabena D.; Sonza Reorda M.; Sterpone L.; Rech P.; Carro L. (2014)
Evaluating the radiation sensitivity of GPGPU caches: New algorithms and experimental results. In: MICROELECTRONICS RELIABILITY, vol. 54 n. 11, pp. 2621-2628. - ISSN 0026-2714
Web of Science: 1 - Scopus: 3

Articolo di rivista L. Sterpone (2013)
SEL-UP: A CAD tool for the sensitivity analysis of radiation-induced Single Event Latch-Up. In: MICROELECTRONICS RELIABILITY, vol. 53 n. 9-11, pp. 1311-1314. - ISSN 0026-2714
Web of Science: 2 - Scopus: 3

Articolo di rivista Orazio Aiello; Franco Fiori (2013)
A new MagFET-based integrated current sensor highly immune to EMI. In: MICROELECTRONICS RELIABILITY, vol. 53 n. 4, pp. 573-581. - ISSN 0026-2714 [Disponibilità ristretta]
Web of Science: 4 - Scopus: 4
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Articolo di rivista Fiori F. (2012)
On the use of High-Impedance Power Supplies to Reduce the Substrate Switching Noise in System-on-Chips. In: MICROELECTRONICS RELIABILITY, vol. 52 n. 1, pp. 282-288. - ISSN 0026-2714 [Disponibilità ristretta]
Web of Science: 0 - Scopus: 1
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Articolo di rivista De Pasquale G.; Barbato M.; Giliberto V.; Meneghesso G.; Somà A. (2012)
Reliability improvement in microstructures by reducing the impact velocity through electrostatic force modulation. In: MICROELECTRONICS RELIABILITY, vol. 52 n. 9-10, pp. 1808-1811. - ISSN 0026-2714 [Disponibilità ristretta]
Web of Science: 5 - Scopus: 6
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Articolo di rivista Bona C.; Fiori F. (2011)
MOS Power Transistor Model for Electromagnetic Susceptibility Analysis. In: MICROELECTRONICS RELIABILITY, vol. 51 n. 8, pp. 1356-1364. - ISSN 0026-2714 [Disponibilità ristretta]
Web of Science: 2 - Scopus: 4
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Articolo di rivista Kleyner A.; Bhagath S.; Gasparini M.; Robinson J.; Bender; M. (1997)
Bayesian techniques to reduce the sample size in automotive electronics attribute testing. In: MICROELECTRONICS RELIABILITY, vol. 37, pp. 879-883. - ISSN 0026-2714
Web of Science: 21 - Scopus: 40

Questa lista è stata generata il Tue Sep 26 05:43:47 2017 CEST.