Improving the Convergence of Vector Fitting for Equivalent Circuit Extraction From Noisy Frequency Responses

Tipo di pubblicazione: Articolo su rivista
Tipologia MIUR: Contributo su Rivista > Articolo in rivista
Titolo: Improving the Convergence of Vector Fitting for Equivalent Circuit Extraction From Noisy Frequency Responses
Autori: Grivet-Talocia S., Bandinu M.
Autori di ateneo:
Titolo del periodico: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY
Tipo di referee: Tipo non specificato
Editore: IEEE
Volume: 48
Numero: 1
Intervallo pagine: pp. 104-120
Numero di pagine: 17
ISSN: 0018-9375
Abstract: The vector fitting (VF) algorithm has become a common tool in electromagnetic compatibility and signal integrity studies. This algorithm allows the derivation of a rational approximation to the transfer matrix of a given linear structure starting from measured or simulated frequency responses. This paper addresses the convergence properties of a VF when the frequency samples are affected by noise.We show that small amounts of noise can seriously impair or destroy convergence. This is due to the presence of spurious poles that appear during the iterations. To overcome this problem we suggest a simple modification of the basic VF algorithm, based on the identification and removal of the spurious poles. Also, an incremental pole addition and relocation process is proposed in order to provide automatic order estimation even in the presence of significant noise.We denote the resulting algorithm as vector fitting with adding and skimming (VF-AS). A thorough validation of the VF-AS algorithm is presented using a Monte Carlo analysis on synthetic noisy frequency responses. The results show excellent convergence and significant improvements with respect to the basic VF iteration scheme. Finally, we apply the new VF-AS algorithm to measured scattering responses of interconnect structures and networks typical of high-speed digital systems
Data: 2006
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave: rational approximation, linear macromodeling, circuit extraction, vector fitting, noise
Dipartimenti (originale): DELEN - Dipartimento di Elettronica
Dipartimenti: DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
URL correlate:
Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ELETTROTECNICA
Data di deposito: 05 Ott 2006 13:55
Data ultima modifica (IRIS): 15 Ott 2013 11:52:23
Data inserimento (PORTO): 17 Apr 2016 09:56
Numero Identificativo (DOI): 10.1109/TEMC.2006.870814
Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/1401342
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