Impact of data cache memory on the single event upset-induced error rate of microprocessors / F., Faure; R., Velazco; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo; Violante, Massimo. - In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE. - ISSN 0018-9499. - 50:6(2003), pp. 2101-2106. [10.1109/TNS.2003.821824]
Impact of data cache memory on the single event upset-induced error rate of microprocessors
REBAUDENGO, Maurizio;SONZA REORDA, Matteo;VIOLANTE, MASSIMO
2003
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
https://hdl.handle.net/11583/1406944
Attenzione
Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo