Combined FDTD/Macromodel simulation of interconnected digital devices

Tipo di pubblicazione: Articolo in atti di convegno
Tipologia MIUR: Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) > Contributo in atti di convegno
Titolo: Combined FDTD/Macromodel simulation of interconnected digital devices
Autori: S. Grivet-Talocia; I.S. Stievano; I.A. Maio; F. Canavero
Autori di ateneo:
Intervallo pagine: pp. 536-541
Editore: IEEE
ISBN: 0769518702
Titolo del convegno: Design Automation and Test in Europe (DATE03)
Luogo dell'evento: Munich (Germany)
Data dell'evento: March 3-7, 2003
Rilevanza dell'evento: Internazionale
Luogo di pubblicazione: Piscataway, NJ
Data: 2003
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave:
Dipartimenti (originale): DELEN - Dipartimento di Elettronica
Dipartimenti: DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
URL correlate:
Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ELETTROTECNICA
Data di deposito: 05 Ott 2006 14:30
Data ultima modifica (IRIS): 19 Mag 2017 15:18:41
Data inserimento (PORTO): 21 Mag 2017 05:22
Numero Identificativo (DOI): 10.1109/DATE.2003.1253664
Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/1409392
Link resolver URL: Link resolver link
Citazioni:

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