Circuit Extraction via Time-Domain Vector Fitting

Tipo di pubblicazione: Articolo in atti di convegno
Tipologia MIUR: Contributo in Atti di Convegno (Proceeding) > Contributo in atti di convegno
Titolo: Circuit Extraction via Time-Domain Vector Fitting
Autori: Grivet-Talocia S.; Canavero F.; Stievano I.S.; Maio I.A.
Autori di ateneo:
Intervallo pagine: pp. 1005-1010
Editore: IEEE
ISBN: 9780780384439
Titolo del convegno: IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility
Luogo dell'evento: Santa Clara, CA (USA)
Data dell'evento: 9-13 Aug. 2004
Rilevanza dell'evento: Internazionale
Luogo di pubblicazione: Piscataway, NJ
Data: 2004
Status: Pubblicato
Lingua della pubblicazione: Inglese
Parole chiave:
Dipartimenti (originale): DELEN - Dipartimento di Elettronica
Dipartimenti: DET - Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
URL correlate:
Area disciplinare: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ELETTROTECNICA
Data di deposito: 05 Ott 2006 14:33
Data ultima modifica (IRIS): 19 Mag 2017 15:18:41
Data inserimento (PORTO): 21 Mag 2017 05:35
Numero Identificativo (DOI): 10.1109/ISEMC.2004.1349964
Permalink: http://porto.polito.it/id/eprint/1412863
Link resolver URL: Link resolver link
Citazioni:

Il campo presenta il numero di citazioni presenti sulle banche dati Scopus e Web of Science e permette di accedere ai relativi record. Visualizza inoltre il link al record presente su Google Scholar.

Possono verificarsi discrepanze rispetto ai dati presenti sulle banche dati per i seguenti motivi:

  • Differenze tra i dati riportati su IRIS e quelli presenti nelle banche dati.
  • Il numero di citazioni riportate su PORTO viene estratto mensilmente. Il dato citazionale presente sulle singole banche dati è aggiornato in tempo reale
  • Il numero di citazioni per WoS viene calcolato sulla base delle collezioni in abbonamento (Science citation index Expanded e Conference Proceedings Citation Index)

Per informazioni o segnalazioni contattare scrivia/porto

+
-

Allegati

[img]
Preview
PDF (cnf_2004_emcieee_TDVF_IEEE.pdf) - Postprint
Accesso al documento: Visibile (Ad accesso aperto)
Licenza: Pubblico - Tutti i diritti riservati.

Download (436Kb (446721 bytes)) | Preview

Azioni (richiesto il login)

Visualizza il documento (riservato amministratori) Visualizza il documento (riservato amministratori)

Statistiche sul Download degli allegati

Altre statistiche su questa pubblicazione...