Evolution of Te and ne profiles during ECH and ECCD in TCV / R., Behn; Z. A., Pietrzyk; J. R., Rommers; C., Angioni; I., Furno; T. P., Goodman; M. A., Henderson; Hogge, J. P. H.; Y., Martin; Nieswand, C. H.; A., Pochelon; H., Weisen; Porcelli, Francesco; E., Rossi. - 23J - paper P3.030:(1999), pp. 1065-1068. (Intervento presentato al convegno 26th EPS Conference on Controlled Fusion and Plasma Physics, Maastricht nel 14-18 June 1999).
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https://hdl.handle.net/11583/1415894
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